Frinje Proyections With Phase Shifting

Abstract

Uno de los problemas comunes en varias ramas de la investigación forense es la necesidad de realizar mediciones y comparaciones que involucran superficies microscópicas. Por lo general la tecnología disponible para este tipo de medidas está limitada por el elevado costo de los equipos comerciales y también por sus estrechos rangos de aplicación. 

En este trabajo se propone utilizar técnicas de proyección de franjas con corrimiento de fase para reconstruir la topografía de pequeñas superficies. Se muestra además cómo se aborda la determinación de portador y el problema del desenvolvimiento de fase. La utilidad de esta técnica se ilustra con varios ejemplos particulares propios de la actividad forense de nuestro país.